西格玛光机SGRM-200N反射率测量仪

SGRM-200N反射率测量仪是一款可实现微小区域和曲面的反射率测量的设备。该测量仪可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

SGRM-200N反射率测量仪具有宽广的测定波长范围（380 ~ 1050nm），以及微小的测量光斑尺寸（约φ25μm），适用于各种曲率半径的样品测量，测量过程只需数秒，满足各种需求。

SGRM-200N反射率测量仪

测量结果示例

外形图

细节：

·采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反射率样品的测量。

·采用了特殊的光学结构，有效地避免了底面反射的影响，可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。

(使用20倍物镜时，可测最小透明薄板厚度可达0.3mm）

·采用了特殊卤素灯和独创的光学设计，其有效光量大，获取数据快，重复精度高。

·测量点小(典型值为φ50μm)，可直接测曲面，以及膜层的分布特性。

·可用Microsoft® Excel®文件格式保存测量数据。

·可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果(曲线)，方便数据的对比分析。

·采用峰值跟踪技术，提高了反射率的重复测量精度。

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上海芬创信息科技有限公司2004年成立至今，作为专业的光机电产品和技术服务提供商，芬创科技长期致力于将国际上先进的反射率测量仪技术及研究方法介绍引进到中国；专注为中国的光学电子/微电子/激光应用/生物/医药/物理、光学研究机构/计量检测机构/机械加工用户提供高品质的反射率测量仪和技术服务。