西格玛光机集成光学干涉系统的特性与应用

2024-12-24 09:54| 发布者: | 查看: |

西格玛光机集成光学干涉系统(D-TOP)是一种高度实用且经济的光学实验设备,适用于教学、科研和工业应用。

系统组成与应用:

·集成光学干涉系统D-TOP是一款小巧、独立使用的光学干涉系统,适合小型激光器,并且抗振性好,方便观测微小样品。

·该系统可以自由组合迈克尔逊干涉仪、马赫-曾德干涉仪和斐索干涉仪等组件,适用于多种实验需求。

·结构小巧简单,容易把镜架正确安置到光轴上,而且镜架位置和光轴高度的变更也很容易。

·D-TOP光学干涉系统缩短了从样品到成像透镜的距离,便于放大观测,并通过USB接口连接摄像头记录静止画面和动画。

主要系列与功能:

·微小样品观测用干涉仪 DTM-MMHI:

用于观测约1mm厚玻璃基板透过波面的马赫-曾德干涉仪,以D-TOP为基础实现放大观测。

·曲率半径测定干涉计 DTM-RMFI:

用于评估曲率半径较小的凹面镜的曲率半径值,通过观察凹面镜反射干涉条纹的位置来测量。

·可干涉长测定机 DTM-CLMI:

使用了1/4波长板和PBS的偏光迈克耳逊干涉仪,可测试半导体激光器的背景光的可干涉长度。

组装与调试:

·组装干涉仪时,需要调整立柱高度以确保各器件光轴大致平行,并调整He-Ne激光器使其光束与平台面平行。

·使用空间滤波器、准直透镜、分束和合束等组件,通过辅助会聚透镜调整平行度,以确保干涉条纹的稳定性和清晰度。

应用领域:

·集成光学干涉系统广泛应用于光学镜头面精度测量、精密距离测量、速度计和振动仪等领域。

·由于其高分辨率和非接触测量的特点,特别适合用于面精度测量和微小动态现象的观测。

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