DTM-CLMI可干涉长测定机是一款使用了1/4波长板和PBS的偏光迈克耳逊干涉仪，可测试半导体激光器的背景光的可干涉长度。

DTM-CLMI可干涉长测定机的操作简便，首先使用He-Ne激光光源，调整好干涉仪，然后使用平台把反射镜移开，入射一束准直的半导体激光束。使用偏光板过滤掉激光成分，仅让背景光到达摄像头。一点一点地耐心调试可动反射镜找到出现干涉条纹的位置，可以观测到干涉条纹的范围便是其可干涉长度了。

DTM-CLMI可干涉长测定机

DTM-CLMI测定机原理图

DTM-CLMI测定机成像预览

组件详情：

更多产品详细信息>>>芬创商城

上海芬创信息科技有限公司2004年成立至今，作为专业的光机电产品和技术服务提供商，芬创科技长期致力于将国际上先进的可干涉长测定机技术及研究方法介绍引进到中国；专注为中国的光学电子/微电子/激光应用/生物/医药/物理、光学研究机构/计量检测机构/机械加工用户提供高品质的可干涉长测定机和技术服务。