西格玛光机偏光解析系统原理

通过测定并分析偏光状态，可以了解物质内部的状态、表面性状或光学特性等。

西格玛光机的自动偏光解析系统是一套标准化了的光源、光器件、支架平台、测量仪和软件的组合。

既可完成简易的偏光测量，也可改装为专用的测定装置，应用广泛。

偏光测量软件

·简易偏光解析软件（SimpleAPAS）SimpleAPAS

可实现激光等特定波长的消光比、相位差测定，也可组合到客户的应用程序中去。

主要功能包括波长板、检偏器光轴的自动调整，塞拿蒙补偿 (Senarmont compensator) 测量相位差，转动补偿器方式的偏光计测和相位差测量，各种过程计测。

·综合偏光解析软件（SKPola）

使用紫外、可见或近红外光源，配合专用的光学系统，可分析分光数据特性。

对应单一波长测定和分光测定，还可以测定高次相位差，可完成偏光光学零件的主要技术指标的评估。

主要功能包括偏光光学零件光轴的自动调整，塞拿蒙补偿 (Senarmont compensator) 测量相位差，转动补偿器方式的偏光计测，转动检片器补偿方式的偏光计测，圆偏光对比度测量，偏光器透过偏光比测定，分光透过率测定，各种过程计测。

测定内容

包括消光比测定、庞加莱 (Poincaré) 球显示、把测量数据传送给其他表计算软件等。

应用例

承接客户定制或新产品开发，如偏光膜透过偏光比测定装置、附带同轴观测系统的相位差测定装置、圆偏光测定装置等。

上海芬创信息科技有限公司2004年成立至今，作为专业的光机电产品和技术服务提供商，芬创科技长期致力于将国际上先进的偏光解析系统技术及研究方法介绍引进到中国；专注为中国的光学电子/微电子/激光应用/生物/医药/物理、光学研究机构/计量检测机构/机械加工用户提供高品质的偏光解析系统产品和技术服务。