自动偏光解析系统

　　所谓偏光解析系统

　　通过测定并分析偏光状态，可以了解物质内部的状态，或表面性状，或光学特性等。

　　西格玛光机推荐的自动偏光解析系统是一套标准化了的光源，光器件，支架平台，测量仪和软件的组合。

　　它既可完成简易的偏光测量，也可以改装为专用的测定装置，应用广泛。

　　偏光测量软件

　　简易偏光解析软件「SimpleAPAS」

　　可实现激光等特定波长的消光比，相位差测定，也可组合到客户的应用程序中去。

　　主要功能

　　·波长板，检偏器光轴的自动调整　　　　　　　　　　·转动补偿器方式的偏光计测和相位差测量

　　·塞拿蒙补偿(Senarmont compensator)测量相位差　　·各种过程计测

　　综合偏光解析软件「SKPola」

　　使用紫外，可见或近红外光源，配合专用的光学系统，可分析分光数据特性。

　　对应单一波长测定和分光测定，还可以测定高次相位差，可完成偏光光学零件的主要技术指标的评估。

　　·偏光光学零件光轴的自动调整　　　　　　　　　　　　·转动检片器补偿方式的偏光计测　　·分光透过率测定

　　·塞拿蒙补偿(Senarmont compensator)测量相位差　　　 ·圆偏光对比度测量　　　　　　　　·各种过程计测

　　·转动补偿器方式的偏光计测　　　　　　　　　　　　　·偏光器透过偏光比测定

　　

　　偏光测定应用例