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自动偏光解析系统

2018-05-25 16:58| 发布者: | 查看: |

  所谓偏光解析系统

  通过测定并分析偏光状态,可以了解物质内部的状态,或表面性状,或光学特性等。

  西格玛光机推荐的自动偏光解析系统是一套标准化了的光源,光器件,支架平台,测量仪和软件的组合。

  它既可完成简易的偏光测量,也可以改装为专用的测定装置,应用广泛。

  偏光测量软件

  简易偏光解析软件「SimpleAPAS」

  可实现激光等特定波长的消光比,相位差测定,也可组合到客户的应用程序中去。

  主要功能

  ·波长板,检偏器光轴的自动调整          ·转动补偿器方式的偏光计测和相位差测量

  ·塞拿蒙补偿(Senarmont compensator)测量相位差  ·各种过程计测

  综合偏光解析软件「SKPola」

  使用紫外,可见或近红外光源,配合专用的光学系统,可分析分光数据特性。

  对应单一波长测定和分光测定,还可以测定高次相位差,可完成偏光光学零件的主要技术指标的评估。

  ·偏光光学零件光轴的自动调整            ·转动检片器补偿方式的偏光计测  ·分光透过率测定

  ·塞拿蒙补偿(Senarmont compensator)测量相位差    ·圆偏光对比度测量        ·各种过程计测

  ·转动补偿器方式的偏光计测             ·偏光器透过偏光比测定

  

  偏光测定应用例

  

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